Sommaire
V.1- Introduction
V.2- Production des rayons X
V.3- Spectre d’une anticathode
V.3.1- Spectre continu
V.3.2- Spectre de raies
V.4- Absorption des rayons X
V.4.1- Variation du coefficient d’absorption
1- Variation avec la longueur d’onde
2- Variation avec la nature de l’élément
V.4.2- Applications
1- Fenêtre et écrans
2- Filtre
V.5- Détection des Rayons X
V.5.1- Ecrans fluorescents
V.5.2- Films photographiques
V.5.3- Compteurs à gaz (compteur de Geiger-Muller)
V.6- Interaction des RX avec la matière
V.6.1- Réfraction
V.6.2- Fluorescence
V.6.3- Absorption
V.6.4- Diffusions de Compton
V.6.5- Diffusion de Rayleigh
V.7- Diffusion cohérente
V.7.1- Diffusion cohérente pour un atome (diffusion de Thomson)
V.7.2- Diffusion par deux atomes
V.7.3- Diffraction par une rangée d’atomes identiques
V.7.4- Amplitude diffusée par un réseau d’atomes
V.7.5- Diffraction par un cristal
V.7.6- Facteur de structure Fhkl
V.7.7- Intensité des rayons diffractés
V.7.8- Construction d’Ewald
V.7.9- Relation de Bragg
V.7.10 Extinctions systématiques
1- Extinctions systématiques provoquées par un mode de réseau
a- Mode de réseau de type I
b- Mode de réseau de type F
c- Mode de réseau de type A (ou B ou C)
2- Extinctions systématiques provoquées par la présence d’opérateurs de symétrie translatoires
a- Miroir de type a (b ou c)
b- Miroir de type n
c- Axe binaire hélicoïdal
V.8- Les méthodes expérimentales
V.8.1- Méthode de Laue
V.8.2- Méthode du cristal tournant
1- Principe et description du montage
2- Détermination du paramètre de la rangée
V.8.3- méthodes des poudres
1- Méthode de Bragg-Brentano
2- Chambre de Debye-Scherrer (D.S.)
a- Le montage
b- L’échantillon
c- Mesure sur le diagramme
3- Détermination du système cristallin et indexation des raies d’un diagramme de poudre
4- Recherche et sélection de phase
5- Détermination de structures cristallines